概况
ConturoMatic TS-X
轮廓粗糙度
配件
技术规格
满足最高要求的测量技术
ConturoMatic TS-X
最高水平的轮廓和粗糙度测量
我们经过验证的概念激励我们继续开发我们的系统。
本着“最好还不够”的座右铭，我们再次仔细审查了 ConturoMatic TS 中与系统精度相关的每一个元素。
导轨、空气静压空气轴承、高速数据传输、快速反应轴追踪、优化的追踪臂轴承、新开发的驱动单元和最高质量的增量秤的细致微调是全面且不断发展的发展的结果 过程。
这一过程催生了 T&S 的最新成果——ConturoMatic TS-X——我们最高效的测量站。
ConturoMatic TS-X测试结果
TS-X轮廓扫描
TS-X 的最佳性能
- 软件控制的电动可调 Y 工作台，用于自动天顶搜索。
- 用于 X 轴和 Z 轴的特殊无摩擦空气静压空气轴承
- 扩大测量范围（280 x 350 mm）
- 混合陶瓷跟踪臂轴承
- 沿X轴静态扫描并记录测量数据
- 标准供货范围内的粗糙度分析模块
- 工作台负载高达 25 公斤（可选 50 公斤）
- 钢基非接触式增量线性光栅尺
- 测量系统分辨率为 0.1 nm
- 物超所值
- 精度：± (0.85 + L/100) µm [L = 测量位移，单位为毫米]（测量方向无变化）
可在整个测量范围内组合轮廓和粗糙度测量
CONTUROMATIC TS-X 表面粗糙度
一步完成轮廓和粗糙度
最先进的轮廓测量系统也越来越多地允许数据采集和粗糙度参数的计算。 陡峭轮廓的粗糙度测量使越来越多的先前扫描程序和评估方法达到了极限。
为了解决这个问题，我们的计算算法从一开始就基于正交回归。 这种方法与动态速度控制相结合，可确保数据点距离均匀，即使在严重倾斜的表面上也能获得完美精确的结果。 相比之下，实现恒定测量点距离的传统解决方案需要通过插值生成尚未实际测量的理论点。
测量粗糙度所需的组件已包含在 ConturoMatic TS-X 随附的标准包中。 除了轮廓测量之外，您的轮廓测量站还提供用于测量表面特性的高性能系统。 所有常见参数均可自动测量和评估。 该软件无缝集成到标准软件中，操作直观。
- 通过物理测量参考模型可以测量表面粗糙度。
- 粗糙度测量范围：280 x 350 mm
- 有效分辨率：0.1 nm
- 测量速度：0.1-0.5毫米/秒
- 测量力：7.5 mN
- 测量点距离：约。 0.5微米
- 适用粗糙度：Rz > 0.5 µm，Ra > 0.05 µm
- 准确度：5%
ConturoMatic 系统测量表面指数所采用的标准：
DIN EN ISO 4287:2010-07
DIN EN ISO 4288:1998-04
EN ISO 16610-21:2013-06
DIN EN ISO 13565-1:1998-04
DIN EN ISO 13565-2:1998-04
DIN EN 10049:2014-03
VDA 2006:2003-07
VDA 2007:2007-02 (可选配)
ISO/TS 16610-31:2010 (可选配)
ConturoMatic 可评估的指标：
- Pt, Pz, Pa, Pc, Pq, Pp, Pv, Psk, Pku, PSm, Pdq, Pmr(c)
- Rt, Rz, Rzi, Rz1max, Ra, Rc, Rq, Rp, Rv, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr(c), Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rmax, R3z, RPc
- Wt, Wz, Wa, Wc, Wq, Wp, Wv, Wsk, Wku, WSm, Wdq, Wmr(c)
- Dominant waviness WDSm, WDc, WDt according to VDA 2007:2007-02 (可选配)
- Filtering by phase-correct Gaussian filters
- Robust Gaussian filter in accordance with ISO/TS 16610-31:2010 (可选配)